ICP—AES法测定二氧化硅中的微量杂质元素  

作　　者：颜料 虞建平[1] 谭明霞[1] 

机构地区：[1]南京玻璃纤维研究设计院210012

出　　处：《硅铝化合物》2003年第2期32-34,共3页

摘　　要：试样经硫酸一氢氟酸分解，在盐酸介中用ICP—AES法测二氧化硅中的微量杂质元素．该方法与原子吸收法(AA)和分光光度法相比更为优越，其化学干扰少，操作简便，快速，重显性好，准确度高。测定结果的相对标准偏差(RSD)小于5％。

关 键 词：ICP—AES法 测定 二氧化硅 微量杂质元素 

分 类 号：TQ127.2[化学工程—无机化工]