一种可用于微米-纳米级矿物研究的新技术——FIB  

作　　者：陈晶[1] 徐军[1] 陈文雄[1] 

机构地区：[1]北京大学电子显微镜实验室,北京100871

出　　处：《地质通报》2003年第5期371-373,共3页Geological Bulletin of China

基　　金：国家自然科学基金项目(40042009)资助。

关 键 词：微米-纳米级矿物 FIB 超显微结构 纳米科学 现代微束技术 透射电子显微镜 TEM 

分 类 号：P575[天文地球—矿物学] TB383[天文地球—地质学]