ODC在软件过程度量与分析中的应用  

Application of ODC in Software Process Measurements and Analysis

作　　者：孙蔚[1] 刘美红[1] 周光[1] 

机构地区：[1]北京航空航天大学计算机科学与工程系,北京100083

出　　处：《计算机工程与应用》2003年第23期98-101,共4页Computer Engineering and Applications

摘　　要：正交缺陷分类(ODC)是软件过程度量与分析中的一种新技术。文章介绍了ODC的概念、发展过程、总体结构以及各种ODC缺陷属性的含义,阐述了如何使用ODC来度量开发过程和识别过程中的问题。最后,文章对ODC的应用和实施进行了总结与分析。Orthogonal Defect Classification(ODC)is a technology for software process measurement and analysis.This paper introduces the concept and development of ODC.The framework of ODC is presented,as well as the key concepts about the various defect attributes of ODC.This paper illustrates how ODC can be used to measure development process and identify the problem in process.Finally,some successful application cases and experiences in practice of ODC are summarized and analyzed.

关 键 词：ODC 缺陷数据分析 过程度量 软件过程改进 

分 类 号：TP311[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]