异步时序电路的功能测试自动生成方法  

Functional Test Generation for Asynchronous Sequential Circuits

作　　者：徐敬波[1] 郑明 薄亚明[1] 

机构地区：[1]江南大学信控学院,无锡214036 [2]无锡华晶矽科微电子公司

出　　处：《计算机工程》2003年第16期71-72,102,共3页Computer Engineering

摘　　要：异步时序电路的测试一直是一个比较困难的问题。该文通过在前人研究的基础上，提出了一种实用、高效的自动测试生成方法。该方法通过使用基于OBDD（有序二元判决图）的布尔特征函数的运算求解来确定电路的状态转换图，然后通过对转换图的强连通图的搜索运算简化状态转换图，最后使用图论的方法求出测试序列。It is difficult to test for asynhchronous sequential circuits. This paper improves the approach of functional test generation for asynchronous sequential circuits.New method expresses the transition relation of circuit through Boolean characteristic function based on OBDD and determines the stable state by the operations based on OBDD.Furthermore, the transition relation of circuit is transformed into STG of circuit and simplifing the STG to detemine the sequential test by the algorithmic graph theory.

关 键 词：异步时序电路 功能测试 有序二元判决图 状态转换图 

分 类 号：TP391.76[自动化与计算机技术—计算机应用技术]