国外典型电子产品HALT和HASS结果简介  

作　　者：祝耀昌[1] 王建刚[1] 

机构地区：[1]中国航空综合技术研究所

出　　处：《军用标准化》2003年第3期55-59,共5页

摘　　要：根据美国QualMark公司的《HALT和HASS结果概括》报告，介绍了高加速寿命试验（HALT）和高加速应力筛选（HASS）的试验过程及结果，总结了进行HALT和HASS时的注意事项。

关 键 词：电子产品 高加速寿命试验 高加速应力筛选 HALT HASS 可靠性试验 应力故障 应用 

分 类 号：TN06[电子电信—物理电子学]