光纤法盐密测量的实验研究  

作　　者：宋伟[1] 黄兴泉[2] 闫东[2] 吴光亚[3] 蔡炜[3] 

机构地区：[1]河南省电力公司,河南郑州450052 [2]河南电力试验研究所,河南郑州450052 [3]武汉高压研究所,湖北武汉430074

出　　处：《河南电力》2003年第3期8-10,20,共4页Henan Electric Power

摘　　要：实验研究表明,光纤表面附着的盐分与光纤通路中光功率衰减量有关。利用这一特性研制的光纤盐密传感器可用于电气设备污秽度的检测。该方法突破了传统等值盐密测量的局限性,为合理配置设备外绝缘所需要的污秽度依据、解决防污闪技术中有关污秽等级标定等问题提供了一种新的手段。

关 键 词：输变电设备 外绝缘性能 光纤法 盐密测量 实验 

分 类 号：TM855[电气工程—高电压与绝缘技术]