检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]西安电子科技大学技术物理学院,陕西西安710071
出 处:《电子质量》2003年第10期J017-J018,J016,共3页Electronics Quality
摘 要:本文综述了厚膜电阻器中噪声的种类、产生部位及机理的研究,重点介绍了厚膜电阻器的导电机制及1/f噪声的模型,并详细讨论了测量厚膜电阻器中1/f噪声的测量系统。在以上讨论的基础上,对厚膜电阻器的低噪声化进行了简单的分析,展望了噪声作为可靠性表征参量的前景。In this paper, an overview of the noise category.source of 1/f noise in thick-film resistors is given. The emphasis is placed on the conduction mechanisms and a model of 1/f noise in thick-film resistors, and then a survey of complete measuring circuit for the detection of 1/f noise in thick-film resistors is described in detail. Based on above discussion ,the low noise method of thick-film resistors and reliability diagnostic technology are outlined.
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