检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
出 处:《微电子学与计算机》2003年第10期41-44,47,共5页Microelectronics & Computer
基 金:国家自然科学基金资助项目(60106004)
摘 要:文章简述SOC测试中BIST的优势,结合SOC设计与测试的相关标准,探讨BIST的发展。The advantage of BIST in SOC test is described in this paper.Combined with the standards of SOC design and test,we discussed the BIST in the future.
关 键 词:SOC 测试 BIST 集成电路 设计 数字电路 模拟电路
分 类 号:TN402[电子电信—微电子学与固体电子学] TN79
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