SOC测试中BIST的若干思考  

To Discuss the BIST in SOC Test

作　　者：王新安[1] 吉利久[1] 

机构地区：[1]北京大学微电子研究院,北京100871

出　　处：《微电子学与计算机》2003年第10期41-44,47,共5页Microelectronics & Computer

基　　金：国家自然科学基金资助项目(60106004)

摘　　要：文章简述SOC测试中BIST的优势,结合SOC设计与测试的相关标准,探讨BIST的发展。The advantage of BIST in SOC test is described in this paper.Combined with the standards of SOC design and test,we discussed the BIST in the future.

关 键 词：SOC 测试 BIST 集成电路 设计 数字电路 模拟电路 

分 类 号：TN402[电子电信—微电子学与固体电子学] TN79