检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:梁瑞生[1] 龚旗煌[2] 王树峰[2] 黄文涛 王德煌 程虎民[3] 马季铭[3]
机构地区:[1]华南师范大学信息光电子科技学院,广州510631 [2]北京大学物理学院,人工微结构和介观物理国家重点实验室,北京100871 [3]北京大学化学与分子工程学院,北京100871
出 处:《北京大学学报(自然科学版)》2003年第3期356-360,共5页Acta Scientiarum Naturalium Universitatis Pekinensis
基 金:973国家攀登计划 (G19990 75 60 7);国家自然科学基金 ( 198840 0 1,195 2 5 412 )资助项目
摘 要:报道了用飞秒光克尔实验系统测量镶嵌在聚乙烯醇 (PVA)薄膜的二氧化锡 (SnO2 )纳米晶簇的光学非线性的实验结果 ,平均粒径为 10nm和 2~ 3nm的SnO2 晶簇的三阶非线性极化率 χ(3)分别为 4 30 1× 10 -14 和 1 72 8× 10 -13esu ,并对其原因进行了分析。实验还表明SnO2 PVA薄膜的光学响应是很快的 ,为 5 0fs。由于聚乙烯醇薄膜的性能稳定 ,易于生产 。The third-order nonlinear susceptibility χ (3) of SnO 2/PVA composite thin film was measured by a femtosecond time-resolved optical Kerr effect OKE at 810?nm wavelength.The χ (3) observed was 4 301×10 -14 esu for SnO 2 nanoparticles which average diameter is 10?nm and 1 728×10 -13 esu for 2~3?nm SnO 2 nanoparticles.Femtosecond time-resolved OKE measurements revealed that the response time of the optical nonlinearity in SnO 2/PVA thin film is extremely fast as short as 50?fs.
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