塑封CMOS数字电路的失效分析实例  

作　　者：吴丹 

出　　处：《上海半导体》1992年第3期38-39,43,共3页

关 键 词：数字电路 失效分析 塑封 CMOS 

分 类 号：TN79[电子电信—电路与系统]