测试仪器发展概述  

Summary of the Development on the Testing Instruments

作　　者：孙亚飞[1] 陈仁文[1] 周勇[1] 龚海燕[1] 

机构地区：[1]南京航空航天大学智能材料与结构航空科技重点实验室,南京210016

出　　处：《仪器仪表学报》2003年第5期480-484,489,共6页Chinese Journal of Scientific Instrument

基　　金：江苏省自然科学基金 (No.BK2 0 0 10 44)资助项目

摘　　要：简要概述了测试仪器的发展历史 ,同时对其各阶段的主要结构形式、性能特点等进行了介绍 ,最后对其未来发展方向进行了探讨。The paper summarized the history,main constructions and characteristics and so on about the testing instruments, and discussed the developing orientation of it in the future at last.

关 键 词：测试仪器 VXI总线 PXI总线 虚拟仪器 发展方向 智能仪器 

分 类 号：TP216[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置] TH7[自动化与计算机技术—控制科学与工程]