多层验前信息下可靠性增长的Bayes分析  

作　　者：张金槐[1] 张士锋 

机构地区：[1]国防科技大学系统工程研究所 [2]国防科技大学航天与材料工程学院

出　　处：《质量与可靠性》2003年第6期12-15,共4页Quality and Reliability

摘　　要：本文研究了两层验前信息下,指数寿命型可靠性增长试验中失效率λ的Bayes估计问题。文中首先讨论了历次寿命试验中关于失效率的回归模型问题,然后由N阶段的可靠性增长试验的子样,运用Bayes方法,给出了两层验前信息下λ的估计方法。为了说明文中的方法和工程应用,讨论了单层验前信息下的验前建模方法及其在多阶段可靠性增长试验中的运用。最后给出了失效率的具体Bayes估计的计算公式。

关 键 词：可靠性增长试验 BAYES分析 多层验前信息 寿命分布 武器装备 

分 类 号：TB114[理学—概率论与数理统计]