铜箔绕组损耗的分析  

作　　者：韦东 

出　　处：《电子变压器技术》2003年第4期29-40,共12页

摘　　要：本文给出了一个简单的方法，用于估算包括二维（2-D）边缘效应在内的磁性绕组的ac损耗。虽然已提出一维（1-D）分析法用于估算导线绕组的绕组损耗，但是，因2-D边缘效应而引起的附加ac损耗非常显著，而不能用已提出的1-D方法预测。本文提出的方法是，基于引用一组1-D分析结果的校正系数来说明2-D边缘效应。本文还将用有限单元分析法（FEA's）验证所获得的结果。

关 键 词：铜箔绕组 二维边缘效应 ac损耗 有限单元分析法 功率转换器 

分 类 号：TM42[电气工程—电器]