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作 者:纪运景[1] 王雪珍[1] 卞保民[1] 王荣[1]
机构地区:[1]南京理工大学信息物理与工程系,南京210094
出 处:《光学与光电技术》2003年第5期59-61,共3页Optics & Optoelectronic Technology
摘 要:从理论和实验两方面讨论了弯曲半径及工作波长对单模光纤弯曲损耗的影响,测量了1310nm和1550nm波长光作用下,弯曲损耗随弯曲半径的变化关系。结果表明:随着弯曲半径的增大,弯曲损耗系数呈下降趋势,并且伴有振荡现象出现;而且,在弯曲半径较大时,弯曲损耗变化平缓,1550nm波长较1310nm波长明显更易产生弯曲损耗,而小弯曲半径对应的弯曲损耗振荡剧烈,此时两种光波长对弯曲损耗的敏感程度交替变大。The bend loss of single-mode is analyzed in theory and experiment. In the conditions of two different wavelengths λ = 1550nm and λ = 1310nm,the measurement of bend loss versus curving radius is provided, and the experimental data are consistent with the theoretical curve. As a result, the bend loss appears oscillation phenomenon, and the curves of bend loss in different wavelengths distinguish for different section of curving radius.
关 键 词:单模光纤 弯曲损耗 弯曲半径 工作波长 损耗系数 半导体激光器 波分复用器 光纤连接器 探测器
分 类 号:TN253[电子电信—物理电子学]
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