准透明绝缘材料内杂质的全息检测与数字化分析  

HOLOGRAPHIC DETECTION OF IMPURITY IN QUASI-TRANSPARENT INSULATOR AND DIGITAL ANALYSIS

作　　者：赵军武[1] 李锦泉[1] 胡柱国[1] 

机构地区：[1]西安交通大学

出　　处：《无损检测》1992年第10期271-273,281,共4页Nondestructive Testing

关 键 词：全息检测 绝缘材料 杂质 无损检验 

分 类 号：TM210.146[一般工业技术—材料科学与工程]