检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:章平[1]
机构地区:[1]曲阜师范大学物理系
出 处:《物理实验》1992年第4期198-198,共1页Physics Experimentation
摘 要:实验发现集成电路数字表测电容时损坏率很高,主要原因是: 1.测电容前没有或忘记给电容放电。有些出厂不久的电容由于出厂测试后没有放电,就可能损坏仪表。从电路上拆下的电容有的数天甚至数周后仍有残余电荷,也会损坏仪表。
分 类 号:TM934.2[电气工程—电力电子与电力传动]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.49