PTCR伏安特性测试曲线中的数学模型  

Models Used in V-I Measuring Curve of PTCR

作　　者：郝永德[1] 方涛 黄正伟[1] 付明[1] 周东祥[1] 

机构地区：[1]华中科技大学电子科学与技术系,湖北武汉430074 [2]深圳市美欧电子股份有限公司,广东深圳518054

出　　处：《仪表技术与传感器》2004年第1期35-36,43,共3页Instrument Technique and Sensor

基　　金：国家高技术发展计划资助项目(7150060070)

摘　　要：详细分析了正温度系数热敏电阻(PTCR)静态伏安特性曲线的特征,在此基础上介绍了处理伏安特性测试数据的数学方法——最小二乘法和自然样条函数法。并将实际测试数据用本方法拟合结果与通用数据拟和软件Origin拟合结果进行了比较。结果表明:本方法拟合的曲线跟Origin拟合的结果趋势非常接近,绘制的曲线更加平滑,更加接近实际。Analyses the static volt-ampere characteristic curve of positive temperature coefficient thermal resistor (PTCR) in detail.Recommend a mathematics method to deal with testing datum of PTCR's volt-ampere characteristic on this basis-Least square method and nature sample function method.Compared with the method of software origin,they fit the data very well,what's more,the curve drawn is more smooth,more close to the reality V-I cuvre than by Origin.

关 键 词：正温度系数热敏电阻 静态伏安特性 最小二乘法 自然样条函数 曲线拟合 数学模型 PTCR 

分 类 号：TN373[电子电信—物理电子学]