检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:王伟[1] 邵淑伟[1] 任卫宏[1] 孟磊[1] 崔建玲[1] 韩韬[1]
出 处:《真空电子技术》2014年第4期42-46,共5页Vacuum Electronics
摘 要:本文介绍了小型化宽带行波管可靠性寿命试验情况。通过对初始总样本为8支的行波管进行实验室长时间同时工作,进行累计工作时间10000h的定时结尾试验,未出现失效情况。完成定时结尾试验后抽取其中4支行波管继续试验,目标是行波管全部寿命终止,目前累积试验时间30530h;通过数据分析的方式对该行波管的平均无故障工作时间进行了预测。This paper introduces reliability lifetime testing of miniaturized broadband traveling-wave tubes.Eightsample TWTs are chosen for laboratory long time simultaneous working.No failureoccurred after accumulative 10,000 hend test.Four of them will continue to work with a target of life exhaustion.30530 hhas been accumulated to date.The mean time between fault(MTBF)was also predicted based on the experimental data.
分 类 号:TN124[电子电信—物理电子学]
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