程序升温-漫反射红外光谱考察SAPO-34分子筛表面酸性质  

Investigation of the Character of Surface Acidity of SAPO-34Molecular Sieve by Programmed Temperature-Diffuse Reflectance IR-FTS

作　　者：张平[1] 王乐夫[2] 

机构地区：[1]广州大学环境科学系,广东广州510400 [2]华南理工大学化学工程系,广东广州510640

出　　处：《分析测试学报》2004年第1期39-41,共3页Journal of Instrumental Analysis

基　　金：国家自然科学基金资助项目(20076017) ;广东省自然科学基金资助项目(000428) ;广东省科技攻关计划(2KB06601S)

摘　　要：将程序升温 -漫反射红外光谱用于表征磷酸硅铝分子筛SAPO_34表面酸性质 ;结果表明 ,SAPO_34分子筛中的桥联羟基Si—OH—Al具有较强的热稳定性 ;结合NH3 探针考察表明 ,SAPO_34分子筛具有B酸和L酸两种酸中心 ,其中B酸较强 ,是SAPO_34酸性的主要部分 ,而L酸中心较弱。The character of surface acidity of SAPO-34molecular sieve was investigated by a newin-situ technique,the programmed temperature-diffuse reflectance infrared Fourier transform spectroscopy(DRIFTS).The results showthat the bridged Si—OH—Al groups in SAPO-34have higher heat stability(873K).This method coupled with NH 3 molecular probes indicates that SAPO-34has both Br⒐nsted and Lewis acidic centers.It was found that the Bronsted acidic center is stronger than the Lewis acidic center and is the main source of the acidity of molecular sieve.

关 键 词：磷酸硅铝分子筛 SAPO-34分子筛 羟基 酸性 程序升温-漫反射红外光谱 原位表征技术 B酸中心 L酸中心 

分 类 号：O643.36[理学—物理化学]