射频导纳物位测量中的同步采样技术研究  

Study on Synchronous Sampling in Technology of RF. Admittance Level Measurement

作　　者：张超[1] 蔡萍[1] 杨重远[1] 吴群 

机构地区：[1]上海交通大学信息检测技术与仪器工程系,上海200030 [2]香港时毅电子有限公司,上海200052

出　　处：《仪表技术与传感器》2004年第2期52-54,共3页Instrument Technique and Sensor

摘　　要：介绍一种基于射频导纳技术的电容式物位计的实现方法,这种方法能够消除物位计挂料影响,从而提高测量的准确度。阐述了基于PIC18F452单片机对射频信号进行同步数据采集的方法。Introduces a realization method of capacitance level meter,the method is based on RF. admittance technology,which can improve the accuracy of measuring,and has a emphasis on the technique of sampling high frequency sine wave using MCU PIC18F452.

关 键 词：物位测量 射频导纳 同步采样 电容式物位计 单片机 数据采集 

分 类 号：TH816[机械工程—仪器科学与技术]