一种数字IC测试系统的设计  

The Design of a Digital Integrated Circuit Test System

作　　者：廉海涛[1] 张克农[1] 王红雨[1] 赵云鹏[1] 常羽飞[1] 

机构地区：[1]西安交通大学

出　　处：《电子产品世界》2004年第02A期67-69,共3页Electronic Engineering & Product World

摘　　要：给出一种数字集成电路(IC)测试系统的软硬件设计方案。该系统基于自定义总线结构,可测试宽范围电平。

关 键 词：IC 测试系统 数字集成电路 软件设计 硬件设计 总线结构 系统结构 通道板 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]