红外吸收法测硅铁中的超低硫  被引量:1

Determination of Sulfur in Silicon Alloys by High Frequency-infrared Absorption Method

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作  者:沈进[1] 宋立伟[2] 赵宇[2] 游翔[1] 

机构地区:[1]鞍山市精细化工技术研究中心,辽宁鞍山1140442 [2]鞍钢集团化检验中心,辽宁鞍山114021

出  处:《辽宁化工》2004年第3期185-186,共2页Liaoning Chemical Industry

摘  要:应用高频红外碳硫仪 ,建立了硅铁合金中超低硫测定方法 ,对选择适当的测定条件如助熔剂、分析时间等进行了探讨 ,最佳测定条件 :最大工作电流为 4 0 0~ 4 80mA ;载气纯度为 99.99% ;陶瓷坩埚需经 110 0℃灼烧 2h后 ,可使空白降至最小 ;硫元素最短分析时间为 4 0s,比较水平为 5 .0 0。A rapid method for the determination of sulfur in silicon alloys by using high frequency-infrared absorption was presented,the analytical conditions were discussed,such as flux,analytical time. The optimum conditions of measurement were as follow: work current was 400~480 mA;purity of oxyen was 99.99 %;analytical time was 40 s for sulfur.

关 键 词:红外吸收法 超低硫 高频红外碳硫仪 硅铁合金 载气纯度 准确度 工作电流 

分 类 号:O657.33[理学—分析化学]

 

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