关于国军标电子元器件密封性试验的探讨  

Discussion about seal test of electronics in GJB

作　　者：张丹丹[1] 武建文[1] 

机构地区：[1]北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院,北京100083

出　　处：《北京航空航天大学学报》2004年第2期173-176,共4页Journal of Beijing University of Aeronautics and Astronautics

摘　　要：通过理论分析论证了国家军用标准关于电子元器件密封性试验中存在的问题 ,提出了改进方案 ,为实现科学控制军品密封质量提供了参考依据 .结合某厂密封性试验中细检漏的失效数据 ,说明国军标应对实验条件严格控制的必要性 .The problems about sealing test of electronics in GJB were analyzed. Improved methods were presented, which provide the references for controlling the seal quality of military products. Failure data from a seal test performed by some factory are given to illustrate the importance of strictly controlling test conditions.

关 键 词：密封 可靠性 漏气率 细检漏 国军标 

分 类 号：V241.06[航空宇航科学与技术—飞行器设计]