检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]中国工程物理研究院电子工程研究所,四川绵阳621900
出 处:《电子产品可靠性与环境试验》2004年第2期26-28,共3页Electronic Product Reliability and Environmental Testing
摘 要:利用定期检测数据求解贮存失效率是电子产品贮存可靠性研究的重点和难点。条件中位数算法是求解贮存失效率的算法之一,但其估计性能不理想,实际应用并不多见。为了改善条件中位数算法的估计性能,对该算法进行了改进。数字仿真结果显示,改进算法的估计均值和相对估计误差明显优于改进前的条件中位数算法,可广泛地应用于电子产品的贮存可靠性研究。How to estimate the storage failure rate using periodic inspection data is important and difficult in electronic product's storage reliability research. Conditional median algorithm is one way to estimate storage failure rate, but it has poor estimated performance and is seldom used. In order to enhance its estimate performance, we improve the conditional median algorithm in this paper. Digital simulation shows that the improved algorithm' s estimate mean and relative estimate error are better than those of the original unimproved algorithm, so the improved algorithm can be widely used in storage reliability research.
分 类 号:TB114[理学—概率论与数理统计]
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