V_2O_5薄膜结构和性能研究  

Microstructural features, properties of vanadium pentoxide thin films

作　　者：许旻[1] 贺德衍[1] 

机构地区：[1]兰州大学物理科学技术学院

出　　处：《科技通讯（上海）》2004年第1期19-23,共5页

关 键 词：V2O5薄膜 脉冲溅射 微结构 光电特性 XRD XPS AFM 

分 类 号：O484.41[理学—固体物理]