检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:田波[1]
机构地区:[1]中国电子科技集团公司第39研究所,陕西西安710065
出 处:《表面技术》2004年第2期50-51,共2页Surface Technology
摘 要: 阐述了在微带精密蚀刻过程中影响蚀刻速率变化的诸多因素,探讨了酸性氯化铜蚀刻液工艺控制应该注意的问题和解决办法。The paper introduces many influencing factors such as Cl^-,Cu^(1+),Cu^(2+) concentration of microstrip fine etching process and discusses the problems and solutions that should be regarded during controlling acidic copper chloride corrosion solution.
分 类 号:TN4[电子电信—微电子学与固体电子学]
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