激光二极管寿命测试方法研究  

Study on the Method of Laser Diode Life Testing

作　　者：苏美开[1] 高稚允[1] 左昉[1] 刘秉琦[1] 

机构地区：[1]北京理工大学光电工程系,北京100081

出　　处：《激光与红外》2004年第2期124-127,共4页Laser & Infrared

摘　　要：文中介绍了半导体激光二极管(LD)寿命测试的理论依据,给出了寿命测试的数学模型,并据此设计了LD高温加速寿命自动测试系统。系统通过采集恒流工作LD的平均输出光功率随时间变化的信息,绘制LD的老化曲线,即恒流条件下的P-t曲线,或通过采集恒功工作LD的工作电流随时间变化的信息,即恒功条件下的I-t曲线,然后推断LD正常条件下的使用寿命。The theory of Laser Diode life testing and mathematic model of life testing were introduced, and a high-temperature accelerating LDs automatic life testing system was developed from these. By sampling the power/current of LDs,which works under automatic current control (ACC)/ automatic power control (APC), power-time(P-t)/current-time(I-t) curve of LDs is ploted, and thus concludes the normal working life of LDs.

关 键 词：激光二极管 高温老化 寿命测试 激活能 数学模型 

分 类 号：TN365[电子电信—物理电子学]