检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:金虎[1] 杨宝刚[1] 任华友[1] 吴东流[1]
出 处:《宇航材料工艺》2004年第2期66-68,共3页Aerospace Materials & Technology
摘 要:介绍了C/C复合材料常见的内部缺陷 ,以及利用CT技术对C/C复合材料的内部缺陷进行无损检测的方法。结果表明 ,CT检测技术的空间分辨率和密度分辨率完全可以满足C/C复合材料内部缺陷的检出要求 ;但应注意伪像与产品自身缺陷的区别 ,以避免产生误检。This paper introduces internal usual defects of C/C composite and its nondestructive detection method using CT technology. The results show that the space resolution and the density resolution of this technique may fully meet the deffect detection requirements.However,it should be noticed that the artifact differs from the product defect, to protect from error detection.
分 类 号:TB332[一般工业技术—材料科学与工程]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.37