超高精细度光学腔中低损耗的测量  

Measurement of ultra-low losses in optical supercavity

作　　者：李利平[1] 刘涛[1] 李刚[1] 张天才[1] 王军民[1] 

机构地区：[1]量子光学与光量子器件国家重点实验室,山西大学光电研究所太原030006

出　　处：《物理学报》2004年第5期1401-1405,共5页Acta Physica Sinica

基　　金：国家自然科学基金 (批准号 :60 1780 0 6;6992 85 0 4;10 3 740 62);教育部优秀教师奖励基金;留学基金;山西省青年基金 (批准号 :2 0 0 3 10 0 2 )资助的课题~~

摘　　要：对高精细度光学腔的微弱损耗进行了测量 .利用不同扫描速度下的腔衰减振荡信号 ,得到了腔的衰荡时间 .通过与相同镜面组成的超短微腔的直接精细常数的测量对比 ,说明了这种方法的可靠性 .本实验通过对所得到的光腔衰荡信号的衰荡时间、衰荡强度变化进行计算处理得到光学腔的精细度为F =(2 .13± 0 .0 9)× 10 5;得到腔镜的反射率为R =0 .999985 2± 0 .0 0 0 0 0 0 6 ,即腔的总损耗为 (2 9.5 0± 1.2 4 )ppm .由于该腔的线宽在 10 0kHz以下 ,远低于一般的半导体激光器线宽 ,因此可以利用此腔来测其线宽 .实验中测得DBR半导体激光器的线宽为 1.4 9MHz.The ultra-low losses of the supermirror is measured by cavity-ringdown technique with a relative short cavity and independently with the directly finesse measurement of a microcavity with the same supermirrors. The measured cavity finesse is F(2.13±0.09)×105 and F(2.03±0.01)×105 respectively, and the total cavity losses are (29.50±1.24)ppm and (30.15±0.15)ppm. We also used the supercavity to measure the linewidth of a DBR diode laser.

关 键 词：高精细度光学腔 光腔衰荡光谱技术 F-P腔 衰荡强度 衰荡时间 反射率 激光器结构 光腔损耗 

分 类 号：O4-34[理学—物理]