检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:由臣[1] 赵燕平[1] 孙永昌[1] 王玉红[1] 刘技文[1]
机构地区:[1]天津理工学院材料科学与工程系,天津300191
出 处:《兵器材料科学与工程》2004年第3期44-45,共2页Ordnance Material Science and Engineering
基 金:天津市高等学校科技发展基金(01-20216)
摘 要:简介了现有金属腌膜法制备纳米多层膜的过程,指出采用定位图形套准模板存在的弊端,研制出采用定位框固定基片、套准模板的制备新方法及装置。试验表明,采用该方法可显著提高制备纳米多层膜的完好率及套准精度。The existing process of preparing nano - multileyers using metallic mask method is briefly introduced, the short- comings of aligning patterns using located figures were pointed out. A new preparing way and divice was given out. The testing results show that the intact rate of nano - multilayers and the aligning accuracy were improved obviously by adopting the way.
分 类 号:TB383[一般工业技术—材料科学与工程] TH161.1[机械工程—机械制造及自动化]
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