一种基于JTAG的嵌入式微处理器片上可调试系统  被引量:18

An On-chip Debug System Based on JTAG for Embedded Microprocessors

在线阅读下载全文

作  者:张伟[1] 李兆麟[1] 张闯 汪东升[1] 

机构地区:[1]清华大学计算机系高性能研究所,北京100084 [2]吉林省石油集团公司试油测试公司,吉林138000

出  处:《计算机工程与应用》2004年第12期1-4,51,共5页Computer Engineering and Applications

基  金:国家863高技术研究发展计划重点项目资助(编号:2002AA1Z030);国家自然科学基金资助(编号:60106004)

摘  要:文章提出了一种基于JTAG的嵌入式微处理器片上的可调试系统。该系统在JTAG工业标准的基础上,能够以较少的硬件开销支持指令/数据断点设置、单步执行、寄存器内容查看和设置、内存内容查看和设置、在线编程以及微处理器运行现场设置等调试功能。文章首先介绍了嵌入式微处理器可调试设计的原理,其次介绍了嵌入式微处理器的调试系统设计,最后给出调试实例分析。The paper presents an on-chip debug system based on JTAG standard for embedded microprocessors.With little hardware overhead,the debug system,which is based on JTAG standard,can give some powerful debug functions.For example,setting instruction/data hardware breakpoints,setting single step execution mode,monitoring the registers and memory,programming on line and configuring microprocessor's execution state can all supplied by this debug sys-tem.In this paper,firstly it introduces the debug system for embedded microprocessors,then it introduces the whole de-bug system including hardware,software and interface features,and finally it gives some practical data analysis.

关 键 词:嵌入式微处理器 片上可调试系统 JTAG 

分 类 号:TP332[自动化与计算机技术—计算机系统结构]

 

参考文献:

正在载入数据...

 

二级参考文献:

正在载入数据...

 

耦合文献:

正在载入数据...

 

引证文献:

正在载入数据...

 

二级引证文献:

正在载入数据...

 

同被引文献:

正在载入数据...

 

相关期刊文献:

正在载入数据...

相关的主题
相关的作者对象
相关的机构对象