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机构地区:[1]复旦大学物理系,上海200433 [2]复旦大学测试中心,上海200433 [3]中国科学院上海技术物理研究所,上海200083
出 处:《Journal of Semiconductors》1993年第9期534-539,共6页半导体学报(英文版)
基 金:国家自然科学基金
摘 要:本文通过对常规结构CdTe-ZnTe超晶格和新型结构[(CdTe)_2-(ZnTe)_1]×9-(CdTe)_(60)复合超晶格一级声子喇曼峰位置和线型实验上和理论上的综合比较分析,证明新型结构因减小了晶格失配而使超过临界厚度的ZnTe层结构完整性得到很大改善。分析中首次强调指出一级纵光学声子峰线型对该类超晶格结构分析的重要性。A combined study on first order phonon Raman peak position and lineshape of CdTeZnTesuperlattice and its improved version is reported. Emphasis is placed on significance ofthe lineshape of longitudinal optical phonon Raman peak in analysing the superlattice structurefor the first time. Based on a comprehensive comparison of both peak position and lineshapebetween normal (CdTe)_(3.5)-(ZnTe)_(15.5).superlattice and novel [(CdTe)_2-(ZnTe)_1 ]×9-(ZnTe)_(60) complex superlattice, it is proved that the structure of (ZnTe)_(60) layer with thicknessexcessing critical value in the novel structure is of substantial perfection due to decrease oflattice mismath between superlattice layers.
分 类 号:TN304.25[电子电信—物理电子学]
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