测绘科技体制问题探讨：城市测绘现状与对策  

作　　者：孔金辉 

出　　处：《北京测绘》1993年第2期29-30,28,共3页Beijing Surveying and Mapping

关 键 词：测绘科技体制 城市测量 科技发展 经济效益 

分 类 号：P205[天文地球—测绘科学与技术]