检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:王宇[1] 余云鹏[1] 张汉焱 林钢 徐从康 王江涌[1]
机构地区:[1]汕头大学,广东汕头 [2]汕头超声显示器有限公司,广东汕头 [3]无锡舒玛天科新能源技术有限公司,江苏无锡
出 处:《材料科学》2018年第4期401-411,共11页Material Sciences
基 金:广东省科技计划项目(编号2017A010103021).
摘 要:本文采用射频磁控溅射法在玻璃衬底表面制备了Al2O3掺杂的ZnO薄膜(AZO膜),使用四探针薄膜方阻仪、XRD和分光光度计对AZO薄膜光电性能进行了表征分析。研究了制备参数和退火条件对AZO薄膜光电性能的影响,获得了制备高透过率(90%)和低方阻(15 Ω/□) AZO薄膜最佳工艺参数。In this paper, ZnO thin films doped Al2O3 (AZO) were prepared on glass substrate by radio fre-quency magnetron sputtering. The photoelectric properties of AZO thin films were characterized by four-point probe, XRD and spectrophotometer. The optimal sputtering and annealing parameters for the best performance AZO thin films with transmittance up to 90% and square resistance as low as 15 Ω/□ were obtained.
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