国家重点基础研究发展计划(2005CB321604)

作品数：37被引量：221H指数：7
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相关作者：李晓维杨士元王红江建慧韩银和更多>>
相关机构：中国科学院清华大学同济大学中国科学院研究生院更多>>
相关期刊：《微电子学与计算机》《计算机辅助设计与图形学学报》《小型微型计算机系统》《北京邮电大学学报》更多>>
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基于对偶逻辑的混合极性RM电路极性转换和优化方法被引量：16
《电子学报》2015年第1期79-85,共7页卜登立 江建慧 
国家自然科学基金(No.60903033;No.61432017);国家973重点基础研究计划(No.2005CB321604)
针对混合极性RM(Reed-Muller)电路逻辑综合中的极性转换和极性优化问题,提出了基于对偶逻辑的极性转换和极性优化方法.从理论上证明了所提出方法的正确性,并用实验验证了其有效性和可行性.所提出方法有助于将较成熟的MPRM(Mixed-Polarit...
关键词：RM电路 混合极性 逻辑综合 对偶逻辑 极性转换 极性优化 
一种基于迭代PTM模型的电路可靠性评估方法被引量：4
《计算机学报》2014年第7期1508-1520,共13页肖杰 江建慧 朱旭光 
国家自然科学基金(60903033);国家"九七三"重点基础研究发展规划项目基金(2005CB321604)资助~~
纳米工艺的快速发展既给电路设计创造了新的机会,同时也带来了新的挑战,基于纳米器件的电路可靠性设计便是主要挑战之一,因此有必要研究在设计的早期阶段便能准确地评估电路可靠性的方法.考虑到经典的概率转移矩阵方法在电路可靠性计算...
关键词：门级电路可靠性评估 宏门 逻辑划分 概率方法 迭代概率转移矩阵模型 
考虑时间因素的不同基本门故障概率计算被引量：2
《电子学报》2013年第4期666-673,共8页肖杰 江建慧 
国家自然科学基金(No.60903033);国家973重点基础研究发展计划(No.2005CB321604)
在门级电路的可靠性概率评估方法中,基本门的故障概率p一般人为设定或以常数形式出现.考虑到不同基本门的故障概率具有随时间变化的特性并结合其输入导线,本文构建了考虑输入负载的随时间变化的不同基本门的故障概率模型.理论分析与实...
关键词：时间因素 输入负载 输入导线 CMOS器件 不同基本门的故障概率 
面向缺陷分析的广义门电路故障概率的计算被引量：3
《计算机辅助设计与图形学学报》2013年第4期564-572,共9页肖杰 江建慧 
国家自然科学基金(60903033);国家"九七三"重点基础研究发展计划项目(2005CB321604)
在门级电路的可靠度估计方法中,基本门故障概率p通常是以经验值或人为设定的方式出现,最近才被建模成栅氧化层的故障概率或基本门的输入导线的故障概率.文中结合广义门电路的版图结构信息,分析了故障的形成机理与作用模式、广义门电路...
关键词：缺陷的生长与移除 广义门电路 版图结构 拓扑结构 故障概率 门级电路的可靠性 
结合版图结构信息的基本门电路故障概率估计被引量：6
《电子学报》2012年第2期235-240,共6页肖杰 江建慧 
国家科技部973计划(No.2005CB321604)
在门级电路可靠性估计方法中,基本门的故障概率P一般采用经验值或人为设定.本文结合基本门的版图结构信息,综合考虑了设计尺寸及缺陷特性等因素,分析了不同缺陷模型下的粒径分布数据,给出了缺陷模型粒径概率密度分布函数的参数c的计算算...
关键词：缺陷模型 缺陷粒径概率分布 版图结构信息 基本门故障概率 门级电路可靠性评估 
Scan chain design for shift power reduction in scan-based testing
《Science China(Information Sciences)》2011年第4期767-777,共11页LI Jia HU Yu LI XiaoWei 
supported by the National Natural Science Foundation of China (Grant Nos. 60633060, 60803031, 61006017);the National Basic Research Program of China (Grant No. 2005CB321604);the National High-Tech Research & Development Program of China (Grant Nos. 2007AA01Z107, 2007AA01Z113, 2007AA01Z109, 2009AA01Z129);the National Science Foundation of China (Grants Nos. 60425203, 60910003);the Key Laboratory of Computer System and Architecture, ICT, CAS (Grant No. ICT-ARCH200902);China Postdoctoral Science Foundation (Grant No. 20100470014)
Test power of VLSI systems has become a challenging issue nowadays. The scan shift power dominates the average test power and restricts clock frequency of the shift phase, leading to excessive thermal accumulation and...
关键词：low power DfT scan-based testing test power reduction scan chain design 
冗余多线程结构的重命名寄存器配对共享分配策略被引量：1
《计算机研究与发展》2011年第3期516-527,共12页印杰 江建慧 
国家"九七三"重点基础研究发展计划基金项目(2005CB321604);国家自然科学基金项目(60903033)
同时多线程处理器允许多个线程同时执行,一方面提高了处理器的性能,另一方面也为通过线程冗余执行来容错提供了支持.冗余多线程结构将线程复制成两份,二者独立执行,并比较结果,从而实现检错或者容错.冗余多线程结构主要采用ICOUNT调度...
关键词：冗余多线程 重命名寄存器 指令队列 资源分配 同时冗余多线程 
组合逻辑电路中软错误率的频域分析方法被引量：6
《计算机研究与发展》2011年第3期535-544,共10页雷韶华 韩银和 李晓维 
国家自然科学基金项目(60633060;60606008;90607010);国家"九七三"重点基础研究发展计划基金项目(2005CB321604)
基于频域的软错误率分析方法可实现快速而精确地分析组合逻辑中软错误的电气屏蔽特性和窗闩屏蔽特性.该方法利用信号和逻辑门的频域特性,计算瞬时错误信号在组合逻辑电路中传播过程.基于频域的分析方法主要分为2个处理步骤:线性系统处...
关键词：软错误率 电气屏蔽特性 窗闩屏蔽特性 逻辑屏蔽特性 重汇聚 
数模混合片上系统模拟芯核并行测试结构
《计算机辅助设计与图形学学报》2010年第11期2004-2012,共9页靳洋 王红 杨士元 吕政良 郑焱 
国家自然科学基金(60633060;60773142);国家"九七三"重点基础研究发展规划项目(2005CB321604);教育部博士点专项基金资助项目(20070003122)
为了减少测试成本,基于片上数字化的思想,提出复用片上DAC和ADC数模混合片上系统模拟芯核并行测试结构.自保持模拟测试接口可暂存模拟测试激励和测试响应,减少每个测试端口添加的DAC和ADC所产生的额外面积开销,实现芯核级多端口测试和...
关键词：数模混合片上系统 模拟芯核 自保持模拟测试接口 流水线式并行测试 测试成本 
动态更新参考切片的IP核测试数据压缩方法被引量：2
《计算机辅助设计与图形学学报》2010年第11期2013-2020,共8页刘军 韩银和 李晓维 
国家自然科学基金(60806014,60831160526,60803031),国家自然科学基金重点项目(60633060);国家“九七三”重点基础研究发展计划项目(2005CB321604,2005CB321605);国家“八六三”高技术研究发展计划(2007AA01Z109,2007AA01Z113,2009AA01Z126);合肥工业大学科学研究发展基金(2010HGXJ0014)
为减少测试数据存储容量,提出一种动态更新参考切片的IP核测试数据压缩方法.使用3个扫描切片作为参考切片,若扫描切片与参考切片相容时,仅需2位或4位就可编码这个扫描切片,否则这个扫描切片将替换一个参考切片;当扫描切片与多个参考切...
关键词：测试数据压缩 扫描切片 参考切片 压缩率 相容 
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