国家自然科学基金(61202122)

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基于复用测试逻辑方法的集成电路硅调试设计方案
《上海交通大学学报》2013年第1期55-59,64,共6页张明 高军 张民选 
核高基重大专项(2009ZX01028-002-002);国家自然科学基金项目(61202122);信息保障技术重点实验室基金(KJ-11-04)资助
提出了一种集成电路芯片的硅调试设计方案.采用具有短链扫描结构的扫描链复用方法,以提高对芯片触发器类信息的读写速度,为存储器内建自测试(MBIST)控制器增加异步通信调试接口,以提高静态存储器类信息的访问速度,同时,简化了MBIST控制...
关键词：硅调试 扫描链 存储器内建自测试 
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