DEFLECTOMETRY

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Recent Progress of Full‑Field Three‑Dimensional Shape Measurement Based on Phase Information
《Nanomanufacturing and Metrology》2024年第2期26-41,共16页Yajing Bai Zonghua Zhang Shuai Fu Hongwei Zhao Yubo Ni Nan Gao Zhaozong Meng Zeqing Yang Guofeng Zhang Wei Yin 
Foundation of China(U2341275,52075147);Scientific research project of Education Department of Hebei Province(JZX2024021).
Full-field three-dimensional(3D)measurement technology based on phase information has become an indispensable part of geometric dimension measurement in modern scientific research and engineering applications.This fie...
关键词：3D measurement Phase information Fringe projection Phase measuring deflectometry 
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