DEFLECTOMETRY

作品数:12被引量:16H指数:2
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High-precision measurement of low reflectivity specular object based on phase measuring deflectometry被引量:1
《光电工程》2017年第8期772-780,共9页Yuxiang Wu Huimin Yue Yong Liu 
support by the National Nature Science Foundation of China (61421002, 61327004)
Phase measuring deflectometry(PMD)is a robust,noncoherent technique for the characterization of specular surface.For measuring high specular reflectivity surface,PMD can deliver micron radian range local gradient.Howe...
关键词:光电工程 电学技术 测试 调整 
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