地址译码器

作品数：28被引量：21H指数：4
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相关领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>
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CMOS存储器中地址译码器的开路故障及其测试被引量：1
《微电子技术》1999年第5期43-48,共6页刘建都 
CMOS存储器中地址译码器的开路故障不能被常用的推进测试算法可靠地测试出。本文首先对CMOS存储器中地址译码器的开路故障进行了分析和分类，得出了其中有一类开路故障不能用常用的测试算法可靠的测试出，然后给出了测试该类开路故障的...
关键词：CMOS存储器 地址译码器 不可检测的故障 推进式测试 
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