数据保持

作品数：91被引量：53H指数：4
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多次可编程非易失性存储器的数据保持能力测试及其激活能分析被引量：2
《半导体技术》2022年第1期65-69,共5页王宇龙 王明 
四川省科技计划项目(2019YJ0626)。
基于180 nm BCD工艺平台设计开发了32 Kibit的多次可编程(MTP)非易失性存储器(NVM)。详细描述了存储单元的结构设计特点、操作机理及影响非易失性的关键因素。测试并量化了其在高温条件下的数据保持能力,并根据Arrhenius模型设计了高温...
关键词：嵌入式非易失性存储器(eNVM) 多次可编程(MTP)存储器 数据保持能力 Arrhenius模型 加速老化试验 激活能 
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