去嵌入

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利用测试数据获得芯片端口EMI特性的改进方法
《安全与电磁兼容》2016年第3期78-80,共3页周琦 
介绍了一种通过测试进行芯片EMI建模的方法,它能够在信号传输的过程中同时测试到信号线源端和负载端的阻抗及干扰电平,能够避免由于产品功能切换导致的测量误差,且过程简单,所需资源少。
关键词：去嵌入 三端口网络 S参数 A参数 MIPI端口 
2009IEEEEMC学术研讨会——获奖文章（一）
《安全与电磁兼容》2009年第5期10-14,79,共6页
针对单端传输线的去嵌入已经被广泛应用，但还没有针对被耦合传输线的去嵌入技术，文章提出了针对被耦合传输线的去嵌入技术，这种去嵌入技术采用单端TRL校准图，而其结果可以通过矢量网络分析仪（VNA）的误差校正数据直接得到。
关键词：去嵌入 矢量网络分析仪 混合模S参数 
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