卢瑟福背散射

作品数:59被引量:66H指数:4
导出分析报告
相关领域:理学电子电信更多>>
相关作者:孟祥艳王雪蓉刘运传刘向东周燕萍更多>>
相关机构:北京大学中国科学院复旦大学四川大学更多>>
相关期刊:《微细加工技术》《南华大学学报(自然科学版)》《原子核物理评论》《功能材料》更多>>
相关基金:国家自然科学基金国家教育部博士点基金国防基础科研计划国家重点基础研究发展计划更多>>
-

检索结果分析

结果分析中...
选择条件:
  • 期刊=Journal of Semiconductorsx
条 记 录,以下是1-3
视图:
排序:
氧化Au/Ni/p-GaN欧姆接触形成的机理被引量:1
《Journal of Semiconductors》2005年第6期1154-1158,共5页胡成余 秦志新 冯振兴 陈志忠 杨华 杨志坚 于彤军 胡晓东 姚淑德 张国义 
国家高技术研究发展计划(批准号:8632001AA313110;2001AA313060和2001AA313140);北京市科技项目(批准号:H030430020230);国家自然科学基金(批准号:60276010;60276034;60406007;60476028)资助项目~~
用卢瑟福背散射(RBS)和同步辐射X射线衍射(XRD)研究了p-GaN上的Ni/Au电极在空气下不同温度合金后的微结构的演化,并揭示这种接触结构的欧姆接触形成机制.研究不同温度下比接触电阻(ρc)的变化,发现从450℃开始Au扩散到GaN的表面在p-GaN...
关键词:p型氮化镓 镍/金 比接触电阻 同步辐射 卢瑟福背散射 
AlGaN中的应变状态
《Journal of Semiconductors》2005年第z1期1-4,共4页张纪才 王建峰 王玉田 杨辉 
国家自然科学基金(批准号:69825107),国家自然科学基金及香港研究资助局联合基金(批准号:5001161953,N-HKU028/00)资助项目
用X射线衍射和卢瑟福背散射方法研究了生长在GaN上厚度为570nm的AlxGa1-xN外延层中的应变状态.实验结果显示AlGaN的共格因子在组分小于0.42时随组分的增加而近似线性减小,并且在0.42时达到30%,此后随组分的增加变化较慢,在x=1(AlN)时接...
关键词:三轴晶X射线衍射 ALGAN 共格因子 应变 卢瑟福背散射 
中子辐照GaAs的沟道卢瑟福背散射研究被引量:1
《Journal of Semiconductors》1998年第9期672-677,共6页刘键 王佩璇 柯俊 朱沛然 扬峰 殷士端 
用沟道RBS方法研究了中子辐照GaAs的缺陷在快速退火过程中的恢复行为.结果表明,在1014~1017/cm2范围内离位原子浓度近似按辐照剂量量级的平方关系增长.中子辐照效应对ψ1/2没有影响.经一定剂量辐照后,退火...
关键词:砷化镓 中子辐照 沟道RBS法 
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部