解调性能

作品数：35被引量：114H指数：6
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瑞利衰落信道MDPSK相位比较解调性能
《电子学报》1995年第7期107-109,共3页王先义 江长荫 
国家自然科学基金;电子工业部电科院预研基金
本文提出一种适合于瑞利衰落信道多进制差分相移键控系统相位比较解调的性能分析方法，推导出符号错误率解析表示式，考虑了瑞利衰落、时间选择性衰落和高斯白噪声对体制性能的影响，并针对衰落功率谱为高斯型和矩形分别对二进制。
关键词：MDPSK 瑞利衰落信道 符号错误率 相位比较解调 
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