光纤列阵

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自聚焦光纤列阵参数测试仪及应用
《仪器仪表学报》1994年第1期22-25,6,共5页黄伟同 杨瀛海 李虹 俞本立 
本文详细报导了自聚焦光纤列阵参数测试仪的结构、性能和使用。利用该测试仪可以测量列阵的共轭距离、传象宽、分辨率和光量分布等主要参数,从而得到列阵的其它参数。本测试仪的生产为光纤列阵的制造和使用,提供了可靠的测试设备。
关键词：自聚焦光纤 光纤列阵 参数测试仪 
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