SOC测试

作品数：139被引量：220H指数：9
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一种基于遗传算法的多IP核并行测试方法被引量：2
《微电子学与计算机》2017年第1期71-75,共5页谈恩民 贾亚平 
针对现有SoC测试方法所需测试时间过长的问题,提出了一种基于遗传算法的多IP核并行测试方法.该方法主要是在功耗约束的情况下,通过遗传算法将尽可能多的IP核的测试数据压缩,即IP核的测试数据相同的位接到同一根总线数据位,使每次并行测...
关键词：SOC测试 遗传算法 IP核 并行测试 
基于IEEE 1500标准的IP核测试壳的设计与验证
《微电子学与计算机》2016年第7期110-114,共5页冯燕 陈岚 王东 赵新超 彭智聪 
IEEE 1500标准对测试壳行为和芯核测试语言进行规定,可有效解决嵌入式IP核测试复用的问题.研究了IEEE 1500标准的测试机制,以ISCAS’89Benchmark S349电路为例,详细设计了符合IEEE 1500标准的测试壳,并对测试壳的全部测试模式进行验证....
关键词：IEEE 1500标准 SOC测试 测试壳 自动生成 
基于CMGA的SoC测试多目标优化研究
《微电子学与计算机》2016年第5期111-114,共4页谈恩民 琚兆学 
针对传统群体智能算法在解决SoC测试多目标优化问题上存在的缺陷,将改进的Tent混沌映射引入到多目标遗传算法中.建立以测试时间和测试功耗为目标的优化模型,在测试访问机制合理划分基础上,利用算法对该数学模型进行求解.选取典型的ITC...
关键词：混沌映射 多目标遗传 测试访问机制 测试功耗 
基于TAM分组策略的SoC测试多目标优化设计被引量：1
《微电子学与计算机》2013年第10期69-72,共4页谈恩民 李清清 
国家自然科学基金(60861003)
在片上系统芯片(System-on-Chip,SoC)测试优化技术的研究中,测试时间和测试功耗是相互影响相互制约的两个因素.在基于测试访问机制(Test Access Mechanism,TAM)分组策略的基础上,以测试时间和测试功耗为目标建立了联合优化模型,运用多...
关键词：SOC测试 测试时间 测试功耗 测试访问机制 多目标遗传算法 
一种基于JTAG的SOC测试电路设计及实现被引量：5
《微电子学与计算机》2009年第1期187-189,192,共4页郑晓光 白国强 
国家"八六三"计划项目(2006AA01Z415)
提出了一种基于JTAG的新的测试电路设计思路.通过扩展JTAG指令,可以利用JTAG通信协议向SOC芯片中下载自定义的测试指令,并读回测试的最终结果.该方法可以对SOC内部的IP及存储器进行充分的功能测试,测试过程可灵活配置,可以快速定位测试...
关键词：JTAG TAP SOC 测试 可复用IP 
一种有效的双矢量测试BIST实现方案被引量：2
《微电子学与计算机》2004年第4期116-120,共5页张金林 陈朝阳 沈绪榜 张晨 
国家自然科学基金项目(70209020)
文章提出了一种简单有效的双矢量测试BIST实现方案,其硬件主要由反馈网络可编程且种子可重置的LF鄄SR和映射逻辑两部分构成。给出了一种全新的LFSR最优种子及其反馈多项式组合求取算法,该算法具有计算简单且容易实现的特点。最后,使用这...
关键词：SOC测试 内建自测试(BIST) 双矢量测试 MAF 模型 
SOC测试中BIST的若干思考被引量：5
《微电子学与计算机》2003年第10期41-44,47,共5页王新安 吉利久 
国家自然科学基金资助项目(60106004)
文章简述SOC测试中BIST的优势,结合SOC设计与测试的相关标准,探讨BIST的发展。
关键词：SOC 测试 BIST 集成电路 设计 数字电路 模拟电路 
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