次临界度

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深度次临界工况下的控制棒价值测量技术研究
《核技术》2025年第1期153-161,共9页司胜义 卑华 陈伦寿 钱仲悠 杜超 高明敏 杨高升 
与传统控制棒价值测量技术不同,深度次临界工况下的控制棒价值测量(以下简称次临界刻棒),依托达临界试验的提棒过程,在全插棒至全提棒的大跨度临界区间进行控制棒价值测量。作为一种全新的控制棒价值测量方法,其棒价值的计算和分析与传...
关键词：次临界度 控制棒价值测量 源量程探测器 计数率倒数比 空间修正因子 
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