董彦辉

作品数：9被引量：15H指数：3
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供职机构：中国电子科技集团公司第四十六研究所更多>>
发文主题：介电常数INP单晶硫磷硅更多>>
发文领域：电子电信天文地球农业科学理学更多>>
发文期刊：《电子质量》《固体电子学研究与进展》《印制电路信息》更多>>
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覆金属箔板样品制备方法研究
《电子质量》2024年第8期30-35,共6页史留学 刘立娜 董彦辉 李继爽 刘国龙 赵志鹏 刘巧会 于艺杰 
覆金属箔板是印制电路板最主要的基础材料之一,其性能指标对电子产品的使用有直接影响。其中,体积电阻率与表面电阻率是衡量覆金属箔板绝缘性能优劣的重要参数。为了减小样品制备工艺对试样体、表电阻率准确测试带来的影响,着重探讨了5...
关键词：覆金属箔板 印刷电路板 体积电阻率 表面电阻率 三电极法 
20 GHz^40 GHz微波介质基板带状线法介电性能测试研究
《印制电路信息》2020年第6期31-34,共4页刘兆枫 刘国龙 董彦辉 
文章对采用20~40 GHz微波介质基板带状线法测试介电常数、介质损耗、介电常数温度系数进行了探究,并将该方法与TE01δ测试腔法和介质谐振器法介电测试结果进行了比较,经研究表明,采用带状线法对于20~40 GHz介电常数结果与TE01δ测试腔...
关键词：20~40 GHz 微波介质基板 介电常数 介质损耗 
温度均匀性对微波介质基板介电常数热系数测试的影响被引量：1
《印制电路信息》2019年第10期41-45,共5页董彦辉 于艺杰 张永华 
文章通过采用多点温控和单点温控测试系统,分别对两种微波介质基板的介电常数热系数进行测试的方式,研究分析了温度均匀性对测试介电常数热系数的影响。测试结果表明,对于介电常数热系数介于-0.002%/℃~0.202%/℃(-20 ppm/℃~20 ppm/℃...
关键词：微波介质基板 介电常数热系数 温度均匀性 
微波介质基板介电性能测试方法探讨被引量：3
《印制电路信息》2019年第9期27-31,共5页董彦辉 张永华 
文章分别对微波介质基板材料介电性能测试的几种主流的标准方法GB/T 12636-1990、IPC TM-650 2.5.5.5c、IPC TM-650 2.5.5.13,以及QWED公司的SPDR、TE01δ方法进行了详细的阐述,并对各个测试方法的优势和不足进行了研究讨论,最后通过对...
关键词：微波介质基板 带状线 测试方法 相对介电常数 损耗因子 
X荧光更换X光管后定量测试方法研究
《现代仪器》2011年第4期86-86,95,共2页董彦辉 李光平 郑庆瑜 
本文介绍采用X射线荧光光谱仪在更换X光管后,经过测试及数据处理,可以采用之前X光管测试的样品做标样,然后对新样品进行测试,而不用新的标样。结果表明,该方法定量准确、干扰因素小,可以大大节约制作标样的时间及成本。
关键词：X射线荧光法 更换X光管 定量测试 
X射线荧光法快速测定蒙脱石(固态)中的铝含量被引量：3
《现代仪器》2011年第2期55-56,42,共3页董彦辉 李光平 郑庆瑜 
本文介绍采用X射线荧光法测定蒙脱石中铝含量的方法及相关条件,并对测量结果精度进行分析。本方法具有样品前期处理简单、干扰因素小,且快速、准确等特点。
关键词：X 射线荧光法 蒙脱石 铝 
X荧光光谱在溅射工艺研究中的应用
《现代仪器》2009年第4期13-14,共2页董彦辉 李光平 郑庆瑜 
本文结合X荧光光谱讨论半导体材料镍欧姆接触电极的溅射工艺,形成的工艺流程短、效率高,方便获得更好的欧姆接触。
关键词：X荧光光谱 镍电极 溅射工艺 
X射线荧光法快速测定硅铝合金中的硅含量被引量：5
《现代仪器》2005年第6期21-22,共2页董彦辉 李光平 郑庆瑜 
本文介绍采用X射线荧光法测定硅铝合金中硅含量的方法及相关条件,并对测量结果精度进行分析。本方法具有样品前期处理简便、干扰因素小,且快速、准确等特点。
关键词：X射线荧光法 硅铝合金 硅 
富磷熔体中生长的φ100 mm掺硫InP单晶研究被引量：3
《固体电子学研究与进展》2004年第1期134-137,共4页周晓龙 安娜 孙聂枫 徐永强 杨光耀 谢德良 刘二海 李光平 周智慧 董彦辉 孙同年 
国家自然科学基金资助项目 (批准号 :60 2 760 0 8)
采用原位磷注入合成法在高压单晶炉内合成富磷的磷化铟 (In P)熔体 ,并利用液封直拉法 (LEC)生长出了 1 0 0 mm In P掺硫单晶材料。对富磷单晶分别用快速扫描光荧光谱技术、腐蚀金相法和扫描电镜进行了研究。结果表明在富磷量足够大的...
关键词：磷化铟 掺硫单晶材料 位错密度 原位磷注入合成法 富磷熔体 
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