邱进军

作品数：22被引量：12H指数：3
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供职机构：华中科技大学光学与电子信息学院电子科学与技术系更多>>
发文主题：矫顽力巨磁电阻效应氧化镍磁光薄膜NIO更多>>
发文领域：理学一般工业技术电气工程化学工程更多>>
发文期刊：《磁性材料及器件》《功能材料》《无机材料学报》《材料研究学报》更多>>
所获基金：武汉市青年科技晨光计划国家自然科学基金“上海－应用材料研究与发展”基金更多>>
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软磁材料矫顽力的高精度测量方法研究
《磁性材料及器件》2001年第2期57-60,共4页李震 邱进军 
软磁材料的矫顽力一般分布于零点附近。一方面 ,在零外加磁场状态下 ,测量易受到噪声的干扰 ;另一方面 ,相对使之达到饱和所施加的最大磁场而言 ,软磁材料矫顽力的分辨率受到一定的限制。提出一种延迟外推的方法 ,高精度地估算软磁材料...
关键词：软磁材料 矫顽力 高精度测量 
玻璃基片和石英试杆对磁光薄膜居里温度测量的影响及其消除方法
《磁性材料及器件》2001年第1期60-62,共3页李震 邱进军 朱全庆 胡用时 
在磁光薄膜居里温度的测量中 ,当薄膜的磁化强度信号与石英试杆和玻璃基片的磁化强度信号具有同一数量级时 ,石英试杆和玻璃基片对薄膜居里温度的确定引入了很大的误差。提出了消除石英试杆和玻璃基片影响的三种方法。实验结果表明 ,由...
关键词：石英试杆 玻璃基片 居里温度测量 磁光薄膜 
基于降温法的直接重写磁光记录薄膜居里温度的快速测量
《磁性材料及器件》2000年第6期8-11,共4页李震 邱进军 朱全庆 胡用时 
在测量单层或多层磁光记录薄膜的居里温度时 ,为了达到有目的测量和提高测量的效率 ,采用了在快速升温过程中 (<5min) ,在感兴趣的温度范围里观察被测薄膜 Ms～ T曲线变化的全过程 ;然后 ,初步判断薄膜的居里温度可能在哪个温度区域里 ...
关键词：快速测量 直接重写磁光记录薄膜 居里温度 降温法 
基于快速傅里叶变换(FET)的磁性参数的计算方法
《磁性材料及器件》2000年第4期4-6,共3页李震 李佐宜 邱进军 胡用时 朱全庆 
当微弱的磁化强度信号被噪声污染时 ,甚至外加磁场信号也被噪声污染时 ,用快速傅里叶变换方法可以获得两种信号有限项的傅里叶级数表达式 ,然后由表达式直接计算出磁性参数 。
关键词：快速傅里叶变换 螺形算法 磁信号 磁性参数 
(Dy,Gd)FeCo磁光记录薄膜温度特性的计算与分析
《功能材料》2000年第6期590-592,共3页胡煜 李佐宜 胡作启 邱进军 
武汉市晨光计划资助!975006103
依据实验结果,运用平均场理论,计算了(Dy,Gd)FeCo磁光记录薄膜随温度连续变化时的饱和磁化强度Ms,得到了居里温度、补偿温度及Ms(T)随材料成分变化趋势图。这些结果对于研究磁光材料的温度特性及热稳定性具有一定的参考价值。
关键词：平均场理论 磁光记录薄膜 热稳定性 温度特性 
NiO靶烧结温度对NiO/Ni_(81)Fe_(19)双层膜的影响
《华中理工大学学报》2000年第1期79-81,共3页胡用时 邱进军 李佐宜 刘兴阶 
国家教育部部门开放研究实验室资助项目
在不同的温度下烧结制备 Ni O靶 ,用射频磁控溅射法淀积 Ni O/ Ni81 Fe1 9双层膜 ,研究了不同的温度烧结 Ni O靶对 Ni O/ Ni Fe双层膜特性的影响 ,结果表明 ,使用不同的烧结温度制备的 Ni O靶溅射所得的 Ni O膜中 Ni的化学价态及其含量...
关键词：烧结温度 矫顽力 双层膜 氧化镍靶 射频磁控溅射 
基于FFT的磁性参数的估算方法
《磁记录材料》1999年第4期29-30,共2页李震 李佐宜 邱进军 胡用时 朱全庆 
当弱的磁化强度信号被噪声污染时，甚至外加磁场信号也被噪声污染对，用FFT方法可以获得两种信号的有限项的Fourier级数表达式，然后由表达式直接计算出磁性参数。这是一种有效而又快捷的计算方法。
关键词：FFT 蝶形算法 磁记录材料 磁性参数 估算方法 
一种提高识别矫顽力精度的方法
《磁记录材料》1999年第3期26-28,共3页李震 李佐宜 邱进军 胡用时 朱全庆 
当软磁材料的矫顿力低于几十奥斯特，甚至十以下奥斯特时，用能产生上万奥斯特外加磁场的VSM去测量时，其精度会受到一定的限制。如果采用一个合适的滤波器处理使外加磁场信号H和磁化强度信号M有一个合理的相位差，那么可以避开因零点...
关键词：磁强计 矫顽力 噪声 轮磁材料 测量精度 
磁光记录薄膜温度特性测量方法研究
《磁记录材料》1999年第3期6-7,28,共3页朱全庆 李震 胡用时 邱进军 李佐宜 
光调制直接重写磁光盘为多层耦合膜，要求各功能层厚度很小，同时饱和磁化强度从很低，用一般的VSM测量系统的测定各功能层的Ms及其与温度的关系比较困难。我们采用了多种技术，包括隔震技术、仪器参数综合优化和误差分析等方法，提高了...
关键词：磁光记录薄膜 温度特性 测量方法 磁化强度 
光调制直接重写磁光双层耦合膜磁基本特性的一种解耦方法
《磁记录材料》1999年第3期8-9,34,共3页朱全庆 谭立国 李震 李佐宜 蔡长波 邱进军 
采用FFT方法对光调制直接重写磁光双层耦合膜的磁基本特性进行解耦，得到各单层薄膜在耦合状态下的特性，并用于分析计算磁光双层耦合膜之间的层间耦合能。
关键词：磁光双层耦合膜 磁强计 光调制 解耦 磁特性 
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