左宁

作品数：9被引量：9H指数：2
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供职机构：中国电子科技集团公司第四十五研究所更多>>
发文主题：自动检测系统图像对准测试点MODBUS通讯协议PLC更多>>
发文领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>
发文期刊：《电子工业专用设备》《电子工艺技术》更多>>
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基于标记点识别的晶圆自动扫正方法研究
《电子工业专用设备》2024年第6期32-37,共6页胡奇威 左宁 袁丽娟 张光宇 包敖日格乐 
自动探针测试系统是硅晶圆半导体前道检测工艺中的关键设备之一,用来测量不同类型器件的多种电性能参数(如功率器件静态参数、微波器件S参数等)。在实际工艺线上,由于人为操作误差和外界环境干扰因素,探针台在测试前,必须对晶圆进行校...
关键词：探针测试系统 晶圆扫正 图像识别 测试工艺 
基于Modbus通讯协议的PLC运动控制研究被引量：2
《电子工业专用设备》2024年第2期1-7,19,共8页左宁 胡奇威 袁丽娟 
在基于Modbus通讯协议的PLC运动控制系统中,PLC作为主站,通过Modbus协议与从站设备(如变频器、电机控制器等)进行通讯。探讨了如何在上位机工控软件中通过Modbus通讯协议与PLC运动控制器及PLC输入输出模块进行数据交换以及逻辑程控。
关键词：MODBUS通讯协议 上位机PLC控制模块 电机控制器 
自动检测设备高温下测试坐标修正方法被引量：1
《电子工艺技术》2024年第1期51-55,共5页左宁 袁丽娟 胡奇威 霍鑫 
硅晶圆半导体芯片在进行晶圆级电性能测量时,往往需要模拟芯片实际工作时的工作环境,如温度、湿度、气压。在自动探针台上进行高温环境模拟测试时,由于高温会导致测针、晶圆片和承片卡盘产生一定程度的形变,从而使得芯片上测试Pad位置...
关键词：探针测试系统 坐标修正 高温形变 
矢量网络分析仪校准与程控研究
《电子工业专用设备》2023年第6期33-40,87,共9页包敖日格乐 左宁 胡奇威 张光宇 张铎 
射频集成电路晶圆级S参数测试是射频器件制作过程中重要的工艺环节,该测试技术依赖微波探针测试系统,微波探针测试系统由矢量网络分析仪、探针、精密运动工作台、承片卡盘、机器视觉系统、测试电缆等组成。其中矢量网络分析仪是探针测...
关键词：矢量网络分析仪 S参数 射频器件在片测试 微波探针测试系统 
测试回路杂散电感消除技术研究被引量：1
《电子工业专用设备》2023年第5期55-60,共6页袁丽娟 荆茂盛 胡奇威 左宁 王洪洲 
由于测试回路中的杂散电感会在被测器件开通和关断的过程中感应出较高的电压尖峰,增大了被测器件的电压应力,严重影响被测器件相关参数的测试精度,甚至导致被测器件损坏。对高压探针测试系统测试回路中产生杂散电感的原理进行研究,通过...
关键词：探针测试系统 杂散电感 叠层母排 
微波信号测试过程中的误差校准分析
《电子工业专用设备》2022年第4期28-32,共5页刘洋 左宁 
介绍了S曲线参数测试的原理、误差产生的原因以及开路-短路-负载-直通(OSLT)在片误差消除的方法,通过正向误差模型和反向误差模型,找出相应的12项误差因子,得出S曲线校正模型,提高了测试的准确性。
关键词：S曲线 OSLT在片校准 误差因子 
提高多芯片拼接线性度的新方法
《电子工业专用设备》2021年第1期15-19,共5页高慧莹 左宁 艾博 
为实现多芯片集成高精度拼接,对芯片拼接线性度进行了深入研究,提出了一种保证高精度芯片集成拼接方法。通过CCD图像匹配、识别定位每个芯片的实际位置坐标,根据已经拼接完成的芯片位置坐标拟合,进行芯片逐步预定位,及时纠偏,拼接完成...
关键词：芯片拼接 预定位 直线度 平行度 
自动检测系统中图像对准方法研究被引量：3
《电子工业专用设备》2018年第6期41-46,共6页左宁 胡晓霞 
自动检测系统需要在没有人工干预的情况下完成待测基片扫正以及自动找到首测点进行起测的功能,若图像对准系统不能稳定工作,设备的整体运行效率就很受影响。通过对自动检测系统图像对准方式的研究,提出了用几何匹配的方法来代替之前的...
关键词：自动检测系统 图像对准 几何匹配 
修正飞针测试系统测试点坐标的解决方法被引量：2
《电子工业专用设备》2017年第5期36-40,45,共6页左宁 高慧莹 
飞针测试系统是用来测量混合电路板、LTCC基板、PCB板的各网络间开路、短路、绝缘以及电容的专业电子芯片检测设备。针对飞针测试系统中测试坐标点的修正提出了一种解决方法,不仅能准确得出对待测基片的平移偏距,也能够通过算法计算出...
关键词：飞针测试系统 坐标修正 平移偏距 旋转角度 
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