王彬

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微晶码技术在电子产品生产行业内的应用与探索
《电子测试》2023年第1期84-86,共3页何宁 王彬 
探索运用物联网技术,建立基于微晶码的SMT产品全流程质量追溯体系,在保证现有质量追溯体系正常运行的情况下,低成本地解决目前已有追溯方式的痛点,为提振电子产品全流程追溯相关工作进行了有益探索。
关键词:微晶码 全流程质量追溯 电子产品 SMT 电子装配 
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